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正元产品 | ZYG-6000激光气体分析仪能为你解决那些问题？

日期：2020-07-02 浏览：1501

ZYG-6000激光气体分析仪采用的是半导体激光光谱吸收技术，也叫TDLAS技术，其是一种高分辨率的光谱吸收技术。半导体激光穿过被测气体的光强衰减可用朗伯-比尔（Lambert-Beer）定律表述式中，IV0和IV分别表示频率V的激光入射时和经过压力P，浓度X和光程L的气体后的光强；S（T）表示气体吸收谱线的强度；线性函数g（V-V0）表示该吸收谱线的形状。因此，半导体激光气体分析仪是通过测量气体对激光的衰减来测量气体的浓度。

激光过程气体分析系统基于半导体激光吸收光谱技术（TDLAS），即“单线光谱”测量技术。系统采用可调制的半导体激光器为发光光源，通过调制半导体激光器的工作电流强度来调制激光频率，使激光扫描范围略大于被测气体的单吸收谱线。从而使半导体激光器发射的特定波长的激光束在穿过测量管时，被被测气体选频吸收，从而导致激光强度产生衰减。于是系统利用不同气体成分均有不同的特征吸收谱线及气体浓度和红外或激光吸收光谱之间存在的 Beer-Lambert 关系，通过检测吸收谱线的吸收大小（即激光强度衰减信息）就可以获得被测气体的浓度。但不同的是，传统非分光红外分析技术使用谱宽很宽且固定波长的红外光源，而 DLAS 技术使用谱宽较小(也就是单色性较好) 且波长可调谐的半导体激光器作为光源。因此，TDLAS技术具有传统非分光红外分析技术无法实现的一些性能优点。

半导体激光器发射的激光谱宽小于 0.0001nm，是红外光源谱宽的 1/106，远小于红外光源谱宽和被测气体单吸收谱线宽度，其频率调制扫描范围也仅包含被测气体单吸收谱线（半导体激光吸收光谱技术也因此被称为单线光谱技术），因此成功消除了背景气体交叉干扰影响。不受被测气体环境参数变化干扰被测气体环境参数—温度或压力变化通常导致谱线强度和展宽发生变化，对温度或压力信号不加修正就会影响测量结果。而TDLAS技术是对被测气体单一吸收谱线进行分析，因此可较容易地对温度、压力效应进行修正。为此系统内置了温度和压力自动修正功能，能根据实际测量得到的被测气体温度和压力对气体成分测量值进行自动修正，从而可实现精确的在线气体分析。

综上所述，单线光谱技术、激光波长扫描技术和环境参数自动修正技术使 TDLAS 技术可以被用于实现气体的在线分析，因此比非分光红外等传统采样气体分析系统具备更强的环境适应性。

技术特征

产品特征

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